一、儀器簡介：

    XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置和XR-300Z型內外直角檢測尺校準裝置主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調整水平的花崗巖底座，符合《JJF1110-2003建筑工程質量檢測器組校準規(guī)范》。

二、儀器用途：

    該校準裝置和XR-300Z型內外直角檢測尺校準裝置用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內外直角檢測尺的示值誤差。

三、結構原理：

    該校準裝置采用比較法測量，由數(shù)顯測微頭行進距離與回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角β1（sinβ1= L1/R），比較測量垂直度檢測尺轉角β2（sinβ2= L2/R）的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進傳動原理，使螺桿的回轉運動變?yōu)橹本€運動，將垂直度檢測尺的角位移轉化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL= L2-L1。

    測量原理：L1：數(shù)顯測微頭行進距離mm；L2：垂直度檢測尺示值mm；β1：標準角；β2：垂直度檢測尺轉角；R：回轉軸軸線、導軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

四、使用方法：

    旋動測量裝置（數(shù)顯測微頭）在零位的兩個方向進行示值校準，分別在校準位置從數(shù)顯測微頭上，給出相對于校準點的標準值，從垂直度檢測尺的指示表上讀數(shù)，讀數(shù)值減去標準值即為相應點的示值誤差。

五、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置技術參數(shù)：

    1、型號：XR-2000C型；

    2、高度：1980±1mm；

    3、數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

    4、數(shù)顯測微頭行程：0-50mm；

    5、數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm。

六、XR-300Z型內外直角檢測尺校準裝置技術參數(shù)：

    1、型號：XR-300Z型；

    2、高度：300mm；

    3、寬度：250mm；

    4、厚度：50mm；

    5、工作面的相互垂直度：0.01mm/300；

    6、工作面的平面度：0.005mm；

    7、數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

    8、數(shù)顯測微頭行程：0-25mm；

    9、數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm；

    10、花崗巖平板的平面度：0.005mm（800X300X150）mm；

    11、花崗巖外形尺寸：（800X300X150）mm。

七、儀器配置：

    1、垂直度檢測尺校準裝置：1臺；

    2、內外直角檢測尺校準裝置：1臺；

    3、水平調整支腳：1套；

    4、說明書：1份；

    5、出廠證書：1份；

    6、保修卡：1份。

八、儀器售后服務：

    1、技術服務：

    1.1 賣方負責設備的運輸、裝卸、安裝、調試，責任與費用由乙方承擔。

    1.2 設備出現(xiàn)故障后，乙方2小時回應客戶需求，七日內完成維修任務。

    1.3 設備安裝調試完成后，廠家負責技術培訓，保障甲方使用者能夠熟練掌握設備原理和設備使用方法及維護方法。

    2、質量保證期：

    2.1 保修期限為自產品驗收合格之日起12個月。

    2.2 設備終身維修、設備操控軟件免費升級，保修期外乙方提供維修服務只收零部件成本費，其工作人員一切費用由乙方負責。